Record Details

PSEUDOEXHAUSTIVE RAM TESTING

Informatics

View Archive Info
 
 
Field Value
 
Title PSEUDOEXHAUSTIVE RAM TESTING
ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ОЗУ
 
Creator V. Yarmolik N.
I. Mrozek
B. Levantsevich A.
В. Ярмолик Н.; Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
И. Мрозек ; Белостокский технический университет
В. Леванцевич А.; Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
 
Subject —
—
 
Description Modern RAM tests and methods for their generation are analyzed and investigated. The wide application of pseudoexhaustive tests as the main test procedure for modern computer systems has been proved. The main estimates and metrics for so kind of tests are obtained. The values of analytical estimates have been validated by the experimental investigations.
Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числеоперативных запоминающих устройств (ОЗУ), обосновывается применение псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества запоминающих ячеек ОЗУ. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ, что подтверждает возможность формирования псевдоисчерпывающего теста для заданного числа ячеек ОЗУ.
 
Publisher UIIP NASB
 
Contributor —
—
 
Date 2017-06-15
 
Type info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
—
—
 
Format application/pdf
 
Identifier http://inf.grid.by/jour/article/view/212
 
Source Informatics; № 2(54) (2017); 58-69
Информатика; № 2(54) (2017); 58-69
1816-0301
 
Language rus
 
Relation http://inf.grid.by/jour/article/view/212/214
An Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] ;A. Bertolino, J. Jenny, L. Zhu, H. Zhu (ed.) // Journal of Systems and Software. – 2014. – Vol. C–39,no. 4. – P. 582–586.
Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self–Testing /Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31,no. 2. – P. 190–194.
Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // In Proc.of Intern. Test Conference (ITC 1984). – Philadelphia, PA, USA, 1984. – P. 237–242.
Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – C. 142–155.
Furuya, K. A probabilistic approach to locally exhaustive testing / K. Furuya // IEEE Transactions on IEICE. – 1989. – Vol. E72, no. 5. – P. 656–660.
Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, no. 3. – P. 251–266.
Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Информатика. – 2011. – № 1(29). – C. 79–88.
Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик,В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3(39). – С. 92–103.
Mrozek, I. Multiple Controlled Random Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Fundamenta Informaticae. – 2016. – Vol. 144, no. 1. – P. 23–43.
Das, D. Exhaustive and Near–Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. −P. 215−229.
Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref-Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. on Software Testing and Analysis (ISSTA’11). – Toronto, Canada, 2011. − P. 254–264.
Yarmolik, S.V. The Syntheses of Probability Tests with a Small Number of Kits / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Automatic Control and Computer Science. – 2011. − Vol. 45, no. 3. − P. 133−141.
Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability. − 2007. – Vol. 56, no. 3. – P. 562–568.
Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. –2007. – № 4. – С. 126–137.
Mrozek, I. Method for Generation Multiple Controlled Random Tests / I. Mrozek, V. Yarmolik // Proc. of the Computer Information Systems and Industrial Management (CISIM 2016). – Vilnius : Springer International Publisher, 2016. – P. 429–440.
Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – Chichester, UK : John Wiley & Sons, 1991. – 536 p.
Niggemeyer, D. Integration of Non-classical Faults in Standard March Tests / D. Niggemeyer, M. Redeker, J. Otterstedt // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT’98). – Washington, USA, 1998. – P. 91–98.
Choinski, T.C. Generation of Digit Reversed Address Sequences for Fast FourierTransforms /T.C. Choinski, T.T. Tylaska // IEEE Transactions on Computers. – 1991. – Vol. 40, no. 6. – P. 780–784.
Wang, W.L. A Complete Memory Address Generator for Scan Based March Algorithms /W.L. Wang, K.J. Lee // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT’05). – Taipei, Taiwan, 2005. – Р. 83–88.
Flajolet, P. Birthday paradox, coupon collectors, caching algorithms and self-organizing search / P. Flajolet, D. Gardy, L. Thimonier // Discrete Appl. Math. – 1992. – No. 39. – P. 207–229.
 
Rights Authors who publish with this journal agree to the following terms:Authors retain copyright and grant the journal right of first publication with the work simultaneously licensed under a Creative Commons Attribution License that allows others to share the work with an acknowledgement of the work's authorship and initial publication in this journal.Authors are able to enter into separate, additional contractual arrangements for the non-exclusive distribution of the journal's published version of the work (e.g., post it to an institutional repository or publish it in a book), with an acknowledgement of its initial publication in this journal.Authors are permitted and encouraged to post their work online (e.g., in institutional repositories or on their website) prior to and during the submission process, as it can lead to productive exchanges, as well as earlier and greater citation of published work (See The Effect of Open Access).
Авторы, публикующие в данном журнале, соглашаются со следующим:Авторы сохраняют за собой авторские права на работу и предоставляют журналу право первой публикации работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution License, которая позволяет другим распространять данную работу с обязательным сохранением ссылок на авторов оригинальной работы и оригинальную публикацию в этом журнале.Авторы сохраняют право заключать отдельные контрактные договорённости, касающиеся не-эксклюзивного распространения версии работы в опубликованном здесь виде (например, размещение ее в институтском хранилище, публикацию в книге), со ссылкой на ее оригинальную публикацию в этом журнале.Авторы имеют право размещать их работу в сети Интернет (например в институтском хранилище или персональном сайте) до и во время процесса рассмотрения ее данным журналом, так как это может привести к продуктивному обсуждению и большему количеству ссылок на данную работу (См. The Effect of Open Access).